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更新時(shí)間:2026-06-29
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光譜儀是測(cè)量光信號(hào)波長(zhǎng)成分的儀器,是光學(xué)分析領(lǐng)域的核心設(shè)備。從牛頓用棱鏡分解陽(yáng)光,到如今硅光子芯片上的微型光譜儀,光譜測(cè)量技術(shù)經(jīng)歷了三百余年的演進(jìn)。
光譜分析設(shè)備看似是"儀器"而非"器件",但在現(xiàn)代光電子產(chǎn)業(yè)中,光譜儀和光學(xué)頻譜分析儀既是重要的測(cè)試測(cè)量工具(用于研發(fā)和生產(chǎn)),也是直接面向終端應(yīng)用的產(chǎn)品(用于環(huán)境監(jiān)測(cè)、食品檢測(cè)、醫(yī)學(xué)診斷等)。特別是硅光子技術(shù)和MEMS技術(shù)的突破,正在將光譜儀推向芯片級(jí)集成,開(kāi)啟一個(gè)全新的市場(chǎng)。
本文聚焦光譜分析設(shè)備的產(chǎn)品本身,從原理出發(fā),介紹不同類型光譜儀和光學(xué)頻譜分析儀的結(jié)構(gòu)、性能指標(biāo)與產(chǎn)品形態(tài),并探討這些設(shè)備在光通信、環(huán)境監(jiān)測(cè)、生物醫(yī)學(xué)、量子技術(shù)等熱點(diǎn)領(lǐng)域的應(yīng)用。
一、光譜分析的基本原理
1.1 什么是光譜
光譜是光強(qiáng)度隨波長(zhǎng)的分布。通過(guò)分析光譜,可以推斷光源的物理性質(zhì)(溫度、成分、速度等)。根據(jù)應(yīng)用需求,分為連續(xù)光譜分析(寬波段)和窄帶光譜分析(精確測(cè)量某一波長(zhǎng)附近的光功率密度)。
1.2 色散原理:分光的方式
光譜儀的核心是分光器件,將復(fù)合光按波長(zhǎng)分散開(kāi)來(lái)。主要有三種方式:
棱鏡色散:利用材料折射率隨波長(zhǎng)變化。分辨率 R = λ/Δλ ≈ b·dn/dλ,分辨率較低但無(wú)級(jí)次干擾。
光柵衍射:利用衍射方程 mλ = d·sinθm。分辨率 R = m·N(N為刻線總數(shù)),是現(xiàn)代主流分光元件。
干涉分光:利用干涉儀測(cè)量干涉圖,經(jīng)傅里葉變換獲得光譜。適合寬波段高分辨率測(cè)量。

圖1:三種分光方式對(duì)比
1.3 探測(cè)器記錄光譜
分光后的光需要探測(cè)器記錄。方式有:線陣探測(cè)器陣列(同時(shí)獲取全譜,速度快)、點(diǎn)探測(cè)器掃描(分辨率可調(diào)但慢)、傅里葉變換型(通量大、分辨率極-高)。
二、光柵光譜儀:最主流的產(chǎn)品
2.1 Czerny-Turner結(jié)構(gòu)
Czerny-Turner(C-T型)是最-經(jīng)-典的光柵光譜儀結(jié)構(gòu)。光路:入射狹縫 → 準(zhǔn)直鏡 → 光柵 → 會(huì)聚鏡 → 出射狹縫/探測(cè)器。分辨率由光柵刻線密度、面積、狹縫寬度、焦距長(zhǎng)度共同決定。

圖2:Czerny-Turner光譜儀結(jié)構(gòu)示意
2.2 閃耀光柵
閃耀光柵通過(guò)加工特定形狀的反射面(閃耀角),將光能集中到目標(biāo)級(jí)次和波長(zhǎng)范圍。閃耀波長(zhǎng)處效-率-最高(>90%),向兩側(cè)下降。常用閃耀波長(zhǎng):500nm(可見(jiàn))、750nm(近紅外)、1000nm(短波紅外)等。
2.3 平面光柵 vs. 凹面光柵
平面光柵配合獨(dú)立準(zhǔn)直鏡和會(huì)聚鏡,結(jié)構(gòu)靈活但像差較大;凹面光柵同時(shí)完成色散和聚焦,結(jié)構(gòu)緊湊但像差較難控制,常見(jiàn)于緊湊型光譜儀。
2.4 產(chǎn)品選型關(guān)鍵參數(shù)
關(guān)鍵參數(shù):波長(zhǎng)范圍、分辨率(Δλ)、光譜分辨率(R = λ/Δλ)、光學(xué)分辨率帶寬(ORB)、動(dòng)態(tài)范圍、積分時(shí)間、雜散光等。
三、傅里葉變換光譜儀:高分辨率產(chǎn)品
3.1 邁克耳孫干涉儀結(jié)構(gòu)
FTS基于邁克耳孫干涉儀,通過(guò)移動(dòng)動(dòng)鏡改變光程差,記錄干涉圖,經(jīng)傅里葉變換獲得光譜。優(yōu)勢(shì):Jacquinot通量?jī)?yōu)勢(shì)(無(wú)狹縫)、Fellgett多路復(fù)用優(yōu)勢(shì)(一次測(cè)量全譜)、Connes精度優(yōu)勢(shì)(波長(zhǎng)精度極-高)。

圖3:邁克耳孫干涉儀結(jié)構(gòu)
3.2 紅外傅里葉光譜儀
在中紅外波段(2.5-25μm)應(yīng)用最-廣,因?yàn)榧t外光量子能量低,F(xiàn)TS高通量?jī)?yōu)勢(shì)彌補(bǔ)探測(cè)器靈敏度不足。分辨率可達(dá)0.001cm?1,用于分子指紋區(qū)分析。
四、微型光譜儀:芯片級(jí)產(chǎn)品
4.1 為什么需要微型光譜儀
傳統(tǒng)光譜儀體積大、價(jià)格高,難以滿足現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)、穿戴設(shè)備等需求。微型光譜儀將核心功能集成在芯片級(jí)尺寸上,應(yīng)用于食品快檢、環(huán)境監(jiān)測(cè)、醫(yī)療診斷、工業(yè)控制等。
4.2 主要技術(shù)路線
MEMS掃描光譜儀:微鏡掃描光柵衍射角度,分辨率較高(0.1nm),但有機(jī)械運(yùn)動(dòng)。
線性漸變?yōu)V光片(LVF):漸變厚度濾光片,陣列探測(cè)器記錄,無(wú)機(jī)械運(yùn)動(dòng),分辨率較低(5-20nm)。
傅里葉變換微型光譜儀:MEMS微鏡代替動(dòng)鏡,通量大,分辨率可調(diào)。
納米梁波導(dǎo)光譜儀:利用納米光學(xué)天線陣列,芯片級(jí)(<1mm2),分辨率~10nm。
計(jì)算光譜儀:隨機(jī)編碼孔徑+重建算法,硬件極簡(jiǎn),依賴算法。

圖4:微型光譜儀主要技術(shù)路線對(duì)比
4.3 應(yīng)用場(chǎng)景
食品與農(nóng)業(yè)(農(nóng)藥殘留快檢)、環(huán)境監(jiān)測(cè)(水質(zhì)、氣體)、醫(yī)療健康(無(wú)創(chuàng)血氧)、工業(yè)控制(過(guò)程液流)、消費(fèi)電子(光譜感知)等。
五、光學(xué)頻譜分析儀:通信波段專用
5.1 與光譜儀的區(qū)別
OSA專門針對(duì)光通信波段(1260-1650nm)優(yōu)化,用于精確測(cè)量激光器波長(zhǎng)、功率、邊模抑制比等。核心區(qū)別:OSA對(duì)波長(zhǎng)精度(<0.01nm)和動(dòng)態(tài)范圍(>60dB)要求極-高。

圖5:OSA與通用光譜儀對(duì)比
5.2 主要技術(shù)路線
衍射光柵+掃描探測(cè)器:分辨率最高(0.01nm),速度慢
衍射光柵+固定探測(cè)器陣列:速度快(ms級(jí)),適合生產(chǎn)測(cè)試
邁克耳孫干涉儀型(傅里葉變換OSA):通量大、分辨率高
5.3 關(guān)鍵性能參數(shù)
波長(zhǎng)范圍、波長(zhǎng)精度、分辨率帶寬(RBW)、動(dòng)態(tài)范圍(>60dB)、靈敏度(-90dBm)、掃描速度等。
5.4 在光通信中的應(yīng)用
激光器波長(zhǎng)測(cè)量、WDM系統(tǒng)測(cè)試、EDFA增益譜測(cè)量、CPO器件測(cè)試、生產(chǎn)測(cè)試等。
六、熱點(diǎn)應(yīng)用:硅光子與CPO測(cè)試
硅光子技術(shù)帶來(lái)測(cè)試挑戰(zhàn):器件尺寸微小、耦合損耗大、多通道并行測(cè)試需求。解決方案包括:片上集成光譜儀、高動(dòng)態(tài)范圍OSA、高速探頭耦合測(cè)試、并行測(cè)試方案等。
七、熱點(diǎn)應(yīng)用:量子技術(shù)中的光譜測(cè)量
單光子源的光譜表征(Hong-Ou-Mandel干涉)、光子糾纏譜測(cè)量、量子點(diǎn)單光子源線寬測(cè)量、光鐘的超窄線寬激光器拍頻測(cè)量、光學(xué)頻率梳光譜等。
八、熱點(diǎn)應(yīng)用:環(huán)境監(jiān)測(cè)與食品安全
8.1 氣體光譜檢測(cè)
利用分子在中紅外的特征吸收光譜,通過(guò)FTIR或光柵光譜儀檢測(cè)CO?、CH?、CO、N?O等溫室氣體。產(chǎn)品形態(tài)包括在線式氣體監(jiān)測(cè)儀、便攜式氣體檢測(cè)儀等。
8.2 食品安全快檢
近紅外光譜(NIR)檢測(cè)水分、脂肪、蛋白質(zhì)、糖分;拉曼光譜檢測(cè)農(nóng)藥殘留;熒光光譜篩查黃曲霉毒素。手持式分析儀基于MEMS微型光譜儀實(shí)現(xiàn)快速現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。

圖6:環(huán)境監(jiān)測(cè)與食品安全光譜檢測(cè)應(yīng)用
九、前沿技術(shù):量子點(diǎn)光譜儀與計(jì)算光譜學(xué)
9.1 量子點(diǎn)光譜儀
利用不同直徑的量子點(diǎn)對(duì)特定波長(zhǎng)選擇性吸收,通過(guò)多個(gè)量子點(diǎn)探測(cè)器響應(yīng)重建光譜。優(yōu)勢(shì):無(wú)需色散元件、芯片級(jí)集成、室溫工作。挑戰(zhàn):標(biāo)定困難、穩(wěn)定性差、算法精度有限。
9.2 計(jì)算光譜學(xué)
使用隨機(jī)編碼孔徑或超構(gòu)表面調(diào)制輸入光,用單個(gè)探測(cè)器記錄強(qiáng)度,通過(guò)壓縮感知重建光譜。硬件極簡(jiǎn),適用單像素光譜儀和超弱光探測(cè)。
十、總結(jié)與產(chǎn)品選型指南

圖7:光譜分析設(shè)備選型指南
光譜分析技術(shù)正處在一個(gè)深刻變革的時(shí)期:傳統(tǒng)的臺(tái)式儀器向芯片級(jí)微型化演進(jìn),同時(shí)新興的計(jì)算光譜學(xué)、量子點(diǎn)光譜儀正在打開(kāi)全新的應(yīng)用空間。掌握不同類型光譜分析設(shè)備的原理與特點(diǎn),是光學(xué)工程師選擇合適工具、開(kāi)展創(chuàng)新應(yīng)用的基礎(chǔ)能力。